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题名 系统苡片(SoC)验证方法与技术
作者 拉早卡 Rashinkar 帕特森 Paterson 信赫 Singh 著 ;孙海平 丁健
分册号
分册名
出版地 北京
出版社 电子工业出版社
出版时间 2005
页数 263页
开本 26cm
丛书名
单 册:
中图分类号 TN402 TN4
科图分类号
主题词 集成电路--芯片--设计 , 微电子技术 , 集成电路
电子资源
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    系统苡片(SoC)验证方法与技术/(美)拉早卡(Prakash Rashinkar),帕特森(Peter Paterson),信赫(Leena Singh)著/孙海平,丁健译.-北京:电子工业出版社,2005
    263页:图;26cm
    
    
    ISBN 7-121-00589-1:CNY29.00
    本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付,详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。
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正题名:系统苡片(SoC)验证方法与技术      索取号:TN4/46      馆藏复本情况:2

序号 登录号 条形码 分配地址 状态 备注
1 186116   0149082   广州校区流通库   在馆      
2 186117   0149081   广州校区流通库   在馆      

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